鏡頭分辨率測試卡TE253 9X設計用于測試鏡頭分辨率。測試卡包含徑向正弦調制的西門(mén)子星,傾斜邊緣和白色噪聲斑塊。在西門(mén)子星的中心是一個(gè)調焦標記。在測試卡的邊界處,存在16個(gè)灰色塊,用于自校準。角落顯示一個(gè)更大的黑色正方形和一個(gè)小白色正方形。西門(mén)子星形有144和72個(gè)周期。
鏡頭分辨率測試卡TE253 A 9x的最大分辨率取決于圖表的大小和中心的直徑
型號 | 尺寸 | 周期數 | 中心標記直徑 | 最小分辨率 | 最大分辨率 |
TE253-L | A1066 | 72 | 12 mm | VGA | 2 MP |
TE253-S | A1066 | 144 | 12 mm | 2 MP | 30 MP |
TE253-H | A1066 | 144 | 5 mm | 8 MP | 180 MP |
TE253-A460-L | A460 | 72 | 5 mm | VGA | 2 MP |
TE253-A460-H | A460 | 144 | 5 mm | 2 MP | 35 MP |
A1066 (反射式) | H - 144 周期和5mm標記用于8百萬(wàn)到1億8千萬(wàn)像素之間的攝像頭 |
S - 144 周期和12mm標記用于2百萬(wàn)到三千萬(wàn)像素之間的攝像頭 | |
L - 72周期和12mm標記 用于VGA和2百萬(wàn)像素采樣率之間的攝像頭 | |
A460 (反射式) | H - 144 周期和5mm標記用于2百萬(wàn)到3千5百萬(wàn)像素之間的攝像頭 |
L - 72周期和12mm標記 用于VGA和2百萬(wàn)像素采樣率之間的攝像頭 | |
D35 (透射式) | 144周期 用于2百萬(wàn)到一千萬(wàn)像素之間的攝像頭 |
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