西門(mén)子星圖測試卡簡(jiǎn)介

TE253西門(mén)子星圖測試卡設計用于檢查分辨率。在圖像的中心，該圖表包含方形的徑向正弦調制西門(mén)子星,灰色補丁和黑色方塊內有白色小的正方形。圖表的邊框有16個(gè)灰色補丁用于自校準。邊角顯示更大的黑色方形，并有一個(gè)更小的白色正方形在它的內部。西門(mén)子星可擁有144和72周期。兩組傾斜邊緣提供四個(gè)不同的調制（40％，60％，80％，100％）。

西門(mén)子星圖測試卡與ISO12233:2014標準是一致的。印刷在粗面紙上。

產(chǎn)品細節

（1）Target allows multiple samples of MTF measurements to be taken from any point within the circumference of the circle.

（2）可以在Imatest軟件的星狀圖模塊上測量清晰度

（3）比起eSFR分析來(lái)說(shuō)西門(mén)子星狀圖對圖像處理不太敏感。

（4）有用于提高測試重復性設計的抵制噪點(diǎn)。

（5）包含用于對比的低對比度的水平和垂直方向的雙曲線(xiàn)。

（6）比起雙曲線(xiàn)在位置選擇上變化的差異小。

（7）可以從各個(gè)角度，如水平、垂直、徑向和切向等測量清晰度。

（8）包含用于自動(dòng)識別分析的標識

西門(mén)子星圖測試卡尺寸